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  • RTS-7二探针测试仪
    RTS-7二探针测试仪

    RTS-7型二探针测试仪是运用二探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料纵向电阻率的专用仪器。

    更新时间:2022-04-27型号:RTS-7浏览量:241
  • HP系列四探针探头
    HP系列四探针探头

    HP系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

    更新时间:2022-04-27型号:浏览量:223
  • XX-2方块电阻测试仪
    XX-2方块电阻测试仪

    四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。

    更新时间:2022-04-27型号:XX-2浏览量:183
  • RTS-3手持式四探针仪
    RTS-3手持式四探针仪

    RTS-3型手持式四探针仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。

    更新时间:2022-04-27型号:RTS-3浏览量:206
  • ST-20掌上型方块电阻测试仪
    ST-20掌上型方块电阻测试仪

    ST-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

    更新时间:2022-04-27型号:ST-20浏览量:189
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